Optylayer - Çok Katlı Ölçüm Sistemi
Optylayer - Çok Katlı Ölçüm Sistemi
  • Optylayer - Çok Katlı Ölçüm Sistemi
  • Ürün Açıklaması
  • Foto Galeri
  • Dosyalar
  • Ürün Videosu
  • TEKLİF AL

Karmaşık bir yapıya sahip bir numunenin kalınlığını optik olarak ölçmek için piyasadaki en yeni ölçüm çözümünü temsil eder. Farklı materyallerin katmanları, kırılma indeksinin farkından dolayı optik bir yansıma üretir. Optik Kafa, birbirine karışmış olan tüm yansımaları toplar.

Ortaya çıkan optik sinyal, her yansımanın konumu hakkında bilgi içermektedir.

Optik sinyallerin işlenmesi, bir A-tarama profilinin yeniden yapılandırılmasına olanak tanır (Yansıtmanın Yoğunluğu ile Konum arasında) A-Tarama analizi, katmanlar hakkında ayrı ayrı bilgi çıkarılmasına imkan tanımaktadır.

Optik Teknolojisi:

  • Katmanların ayrı ayrı ölçümü
  • Bariyer Film için ideal
  • Yüksek HassasiyetUzatılmış Konveyör
  • Temassız ölçüm

Optylayer - Çok Katlı Ölçüm Sistemi
ÜRÜN GRUPLARI
DİĞER ÜRÜNLERİMİZ
ÜRÜNLER HAKKINDABİLGİ ALIN!
Seçtiğiniz ürün hakkında detaylı bilgi almak için bilgileri eksiksiz doldurunuz.